9/2004 ročník 49| 235 | Využití synchrotronového záření 8,3-35 keV stanici SYRMEP synchrotronu Elettra Trieste k mapování akumulace kovů v rostlinách J. Kaiser, M. Liška, L. Reale, A. Ritucci, A. Reale, G. Tomassetti, A. Poma, L. Span`o, A. Tucci A. Faenov, T. Pikuz |
|
| 238 | Barevné vidění při měření tloušťky mazacího filmu R. Poliščuk |
|
| 241 | Z výstav |
|
| 242 | Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli M. Benešová, P. Tománek, M. Liška |
|
| 245 | Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu D. Otevřelová, P. Tománek |
|
| 248 | Transmisní holografický mikroskop pro polychromatické světlo: návrh optické soustavy a vlastnosti zobrazení R. Chmelík, P. Kolman |
|
| 251 | Možnosti optického profilometru MicroProf FRT při 3D hodnocení kvality povrchu M. Ohlídal,K. Páleníková |
|
| 255 | Z dílny starých mistrů |
|
| 256 | Dotknout se neviditelného P. Zahálka |
|
| 260 | In situ analýza tenkých vrstev PMPSi pomocí spektroskopické elipsometrie E. Brandejsová, J. Čechal, O. Bonaventurová Zrzavecká, A. Nebojsa, P. Tichopádek, M. Urbánek, K. Navrátil, T. Šikola, J. Humlíček |
|
| 262 | Použití rozptylu iontů pro určení struktury povrchů M. Kolíbal, S. Průša, P. Bábor and T. Šikola |
|
| 265 | Aplikace komplexní UHV aparatury ke studiu nízkoteplotního růstu ultratenkých gallium-nitridových vrstev S. Voborný, J. Mach, J. Čechal, P. Kostelník, O. Tomanec, P. Bábor, J. Spousta, T. Šikola |
|
| 269 | Odborný veletrh automatizační techniky jpe |
|
| 269 | Plasty a kaučuk pro všechny obory jpe |
|
| 271 | Trendy provozní strojírenské metrologie J. Kůr |
|
| 273 | Výstava GLASSMAN EUROPE 2005 |
|
| 274 | Věnujete trochu času - a získáte čas! |
|
| 275 | Pozvánka na MSV a Automatizaci 2004 |
|
| 276 | Metal Working China 2004 E. Václavíková |
|
| 277 | Dějiny čs. hodinářského průmyslu do roku 1948 Z. Martínek |
|
| 279 | Z technické knihovny B. Tesařík, I. Brezina |
|
Jemná mechanika a optika
Vydává Fyzikální ústav Akademie věd České republiky za spoluúčasti The international Society for Optical Engineering (SPIE/CS) v Nakladatelství Fyzikálního ústavu Akademie věd České republiky.
Časopis pro obory:
Šéfredaktor:
Adresa redakce: Informace o předplatném podává a objednávky přijímá redakce.
|
1956: 1, 2
1957: 4, 6
1958: 1, 2, 8
1959: 2, 6, 10
1960: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1961: 6, 10, 12
1962: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1963: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1964: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1966: 1, 2
1967: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1968: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1970: 1, 2, 3, 4, 5, 6
1972: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1973: 3
1974: 10
1976: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1977: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1978: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1979: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1980: 11
1981: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1982: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1985: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12
1997: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12
1998: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12
1999: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12
2000: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12
2001: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12
2002: 1, 2, 3, 4, 5, 7
2003: 1, 6, 10
2004: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 9, 10, 11
2005: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11
2006: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 9, 10, 11
2007: 1, 2, 4
2008: 1, 4
2009: 1, 4
2010: 4
2011: 4
2013: 5
2015: 5
2016: 9
2018: 11
2019: 7, 11
2020: 12