Obsah
235 |
|
Využití synchrotronového záření 8,3-35 keV stanici SYRMEP synchrotronu Elettra Trieste k mapování akumulace kovů v rostlinách J. Kaiser, M. Liška, L. Reale, A. Ritucci, A. Reale, G. Tomassetti, A. Poma, L. Span`o, A. Tucci A. Faenov, T. Pikuz
|
238 |
|
Barevné vidění při měření tloušťky mazacího filmu R. Poliščuk
|
241 |
|
Z výstav
|
242 |
|
Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli M. Benešová, P. Tománek, M. Liška
|
245 |
|
Výpočet odrazivosti čela vlnovodu mělce vnořeného do polovodičového materiálu D. Otevřelová, P. Tománek
|
248 |
|
Transmisní holografický mikroskop pro polychromatické světlo: návrh optické soustavy a vlastnosti zobrazení R. Chmelík, P. Kolman
|
251 |
|
Možnosti optického profilometru MicroProf FRT při 3D hodnocení kvality povrchu M. Ohlídal,K. Páleníková
|
255 |
|
Z dílny starých mistrů
|
256 |
|
Dotknout se neviditelného P. Zahálka
|
260 |
|
In situ analýza tenkých vrstev PMPSi pomocí spektroskopické elipsometrie E. Brandejsová, J. Čechal, O. Bonaventurová Zrzavecká, A. Nebojsa, P. Tichopádek, M. Urbánek, K. Navrátil, T. Šikola, J. Humlíček
|
262 |
|
Použití rozptylu iontů pro určení struktury povrchů M. Kolíbal, S. Průša, P. Bábor and T. Šikola
|
265 |
|
Aplikace komplexní UHV aparatury ke studiu nízkoteplotního růstu ultratenkých gallium-nitridových vrstev S. Voborný, J. Mach, J. Čechal, P. Kostelník, O. Tomanec, P. Bábor, J. Spousta, T. Šikola
|
269 |
|
Odborný veletrh automatizační techniky jpe
|
269 |
|
Plasty a kaučuk pro všechny obory jpe
|
271 |
|
Trendy provozní strojírenské metrologie J. Kůr
|
273 |
|
Výstava GLASSMAN EUROPE 2005
|
274 |
|
Věnujete trochu času - a získáte čas!
|
275 |
|
Pozvánka na MSV a Automatizaci 2004
|
276 |
|
Metal Working China 2004 E. Václavíková
|
277 |
|
Dějiny čs. hodinářského průmyslu do roku 1948 Z. Martínek
|
279 |
|
Z technické knihovny B. Tesařík, I. Brezina
|
|
Jemná mechanika a optika
Vydává Fyzikální ústav Akademie věd České republiky za spoluúčasti The international Society for Optical Engineering (SPIE/CS) v Nakladatelství Fyzikálního ústavu Akademie věd České republiky.
Časopis pro obory:
Optika
Optoelektronika
Měřící technika
Laboratorní přístroje
FOTO-KINO
Časoměrná technika
Kancelářská technika
Světelná technika
Vakuová technika
Zdravotnická technika
Šéfredaktor:
Jaroslav Nevřala
Adresa redakce:
Kabelíkova 1
Přerov
750 02
tel: +420 581 24 21 51
fax +420 581 20 47 31
Informace o předplatném podává a objednávky přijímá redakce.
|
|
Obsahy čísel: 1956: 1 1957: 4, 6 1958: 1, 2, 8 1959: 2, 10 1961: 6, 10, 12 1962: 6 1963: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1964: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1966: 1, 2 1972: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1974: 10 1976: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1977: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1978: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1979: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1980: 11 1981: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1982: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1985: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12 1997: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12 1998: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12 1999: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12 2000: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12 2001: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 12 2002: 1, 2, 3, 4, 5, 7 2003: 1, 6, 10 2004: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 9, 10, 11 2005: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10, 11 2006: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 9, 10, 11 2007: 1, 2
|